Scanning ZEISS

ZEISS Supra 55VP scanning elektronmikroskop. Filament: field emission. KV range: 100 V til 30 kV. Forstørrelse opptil 1,5 millioner ganger. STEM detektor, EDS detektor for elementanalyse, WDS detektor for elementanalyse, backscatter detektor, katodeluminiscensdetektor. Variable pressure detektor.

ZEISS

ZEISS Supra 55VP scanning elektronmikroskop. Foto: Irene Heggstad.